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基于多特征的IHO-KELM模拟电路故障诊断-现代电子技术2025年24期

基于多特征的IHO-KELM模拟电路故障诊断

作者:万军 王秋勇 高书苑 字体:      

DOI:10.16652/j.issn.1004-373x.2025.24.004 引用格式:,,.基于多特征的IHO-KELM模拟电路故障诊断[J].现代电子技术,2025,48(24):25-30.

关键词:模拟电路;故障诊断;河马优化算法;核极限学习机;加权马氏距离;(试读)...

现代电子技术

2025年第24期