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基于降秩核独立成分分析的故障检测算法-现代电子技术2025年20期

基于降秩核独立成分分析的故障检测算法

作者:郭金玉 冯闯 李元 字体:      

关键词:核独立成分分析算法;故障检测;降秩;核矩阵;田纳西-伊斯曼过程;统计量中图分类号:TN911.7-34;TP277 文献标识码:A 文章编号:1004-373X(2025)20-0135-07

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现代电子技术

2025年第20期