引用格式：，，.基于GA-BO-LSTM的电解电容剩余寿命预测[J].现代电子技术，2025，48（20）：81-86.
关键词：剩余寿命预测；遗传算法；贝叶斯优化；长短期记忆网络；超参数优化；调优区间；分层抽样中图分类号：TN86-3（试读）...
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