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电子工程硬件单粒子效应故障出现原因及故障率控制方案-数字通信世界2025年09期

电子工程硬件单粒子效应故障出现原因及故障率控制方案

作者:周在彪 字体:      

中图分类号:0572;TN3 文献标志码:A 文章编码:1672-7274(2025)09-0036-03

The Cause of Single Event Effect Fault in Electronic Engineering Hardware and the Control Scheme of Fault Rate

ZHOUZaibao

(Sh(试读)...

数字通信世界

2025年第09期